電路板維修過(guò)程中的幾個(gè)問(wèn)題有哪些

一、帶程序的芯片

1、EPROM芯片一般不宜損壞。因這種芯片需要紫外線(xiàn)才能擦除掉程序，故在測試中不會(huì )損壞程序。電路板維修廠(chǎng)家介紹：因制作芯片的材料所致，隨著(zhù)時(shí)間的推移（年頭長(cháng)了），即便不用也有可能損壞（主要指程序）。所以要盡可能給以備份。
2、EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片，均極易破壞程序。這類(lèi)芯片是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線(xiàn)掃描后，是否就破壞了程序，還未有定論。盡管如此，同仁們在遇到這種情況時(shí)，還是小心為妙。筆者曾經(jīng)做過(guò)多次試驗，可能大的原因是：檢修工具（如測試儀，電烙鐵等）的外殼漏電所致。
3、對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來(lái)。

二、復位電路

1、待修電路板上有大規模集成電路時(shí)，應注意復位問(wèn)題
2、在測試前最好裝回設備上，反復開(kāi)，關(guān)機器試一試，以及多按幾次復位鍵

三、功能與參數測試

1、<測試儀>對器件的檢測，僅能反應出截至區，放大區和飽和區。但不能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數值等
2、同理對TTL數字芯片而言，也只能知道有高低電平的輸出變化，而無(wú)法查出它的上升與下降沿的速度

四、晶體振蕩器

1、電路板維修廠(chǎng)家介紹通常只能用示波器（晶振需加電）或頻率計測試，萬(wàn)用表等無(wú)法測量，否則只能采用代換法了
2、晶振常見(jiàn)故障有：a、內部漏電，b、內部開(kāi)路，c、變質(zhì)頻偏，d、外圍相連電容漏電。這里漏電現象，用<測試儀>的VI曲線(xiàn)應能測出
3、整板測試時(shí)可采用兩種判斷方法：a、測試時(shí)晶振附近既周?chē)挠嘘P(guān)芯片不通過(guò)，b、除晶振外沒(méi)找到其它故障點(diǎn)
4、晶振常見(jiàn)有2種：a、兩腳，b、四腳，其中第2腳是加電源的，注意不可隨意短路

五、故障現象的分布

1、電路板故障部位的不完quan統計：
1）芯片損壞30％
2）分立元件損壞30％
3）連線(xiàn)（PCB板敷銅線(xiàn)）斷裂30％
4）程序破壞或丟失10％（有上升趨勢）
2、由上可知，當待修電路板出現聯(lián)線(xiàn)和程序有問(wèn)題時(shí)，又沒(méi)有好板子，既不熟悉它的聯(lián)線(xiàn)，找不到原程序，此板修好的可能性就不大了。